Prévention du risque silicotique : informations fournies par la base de données COLCHIC

<?xml version="1.0" encoding="UTF-8" standalone="no"?>
<rdf:RDF xmlns:rdf="http://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance">
<rdf:Description>
<dc:creator>Carton, B.</dc:creator>
<dc:creator>Kauffer, E.</dc:creator>
<dc:creator>Jeandel, B.</dc:creator>
<dc:date>1990-04-01</dc:date>
<dc:description xml:lang="es">Sumario: L'information provenant de l'activité des services de l'INRS et les CRAM sur prélèvements de produits ou atmosphériques, ainsi que les analyses effectuées, alimentent une base de données nationale: COLCHIC. Une détermination du risque silicotique sur deux environ conduit à détecter un poste de travail où la valeur moyenne d'exposition indicative et dépassée, parfois très largement. L'interrogation de cette base de données est donc susceptible de fournir une vue d'ensemble de la situation des postes de travail du régime général de la Sécurité sociale contrôlés par rapport au risque silicotique</dc:description>
<dc:identifier>https://documentacion.fundacionmapfre.org/documentacion/publico/es/bib/44887.do</dc:identifier>
<dc:language>fre</dc:language>
<dc:rights xml:lang="es">InC - http://rightsstatements.org/vocab/InC/1.0/</dc:rights>
<dc:subject xml:lang="es">Higiene industrial</dc:subject>
<dc:subject xml:lang="es">Contaminantes químicos</dc:subject>
<dc:subject xml:lang="es">Polvo de sílice</dc:subject>
<dc:subject xml:lang="es">Enfermedades profesionales</dc:subject>
<dc:subject xml:lang="es">Silicosis</dc:subject>
<dc:subject xml:lang="es">Bases de datos</dc:subject>
<dc:subject xml:lang="es">COLCHIC</dc:subject>
<dc:subject xml:lang="es">Francia</dc:subject>
<dc:type xml:lang="es">Artículos y capítulos</dc:type>
<dc:title xml:lang="es">Prévention du risque silicotique : informations fournies par la base de données COLCHIC</dc:title>
<dc:title xml:lang="es">Título: Cahiers de notes documentaires</dc:title>
<dc:relation xml:lang="es">En: Cahiers de notes documentaires. - Paris. - nº 139, 2e. trimestre 1990 ; p. 329-334</dc:relation>
</rdf:Description>
</rdf:RDF>