Búsqueda

Una Apuesta por la calidad de las patentes mediante mediciones estándar

<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xsi:schemaLocation="http://www.loc.gov/MARC21/slim http://www.loc.gov/standards/marcxml/schema/MARC21slim.xsd">
  <record>
    <leader>00000cab a2200000   4500</leader>
    <controlfield tag="001">MAP20120045576</controlfield>
    <controlfield tag="003">MAP</controlfield>
    <controlfield tag="005">20220912144940.0</controlfield>
    <controlfield tag="008">121029e20121015esp|||p      |0|||b|spa d</controlfield>
    <datafield tag="040" ind1=" " ind2=" ">
      <subfield code="a">MAP</subfield>
      <subfield code="b">spa</subfield>
      <subfield code="d">MAP</subfield>
    </datafield>
    <datafield tag="084" ind1=" " ind2=" ">
      <subfield code="a">911.2</subfield>
    </datafield>
    <datafield tag="100" ind1="1" ind2=" ">
      <subfield code="0">MAPA20120024854</subfield>
      <subfield code="a">Kappos, David J.</subfield>
    </datafield>
    <datafield tag="245" ind1="1" ind2="4">
      <subfield code="a">Una Apuesta por la calidad de las patentes mediante mediciones estándar </subfield>
      <subfield code="c">David J. Kappos, Stuart Graham </subfield>
    </datafield>
    <datafield tag="520" ind1=" " ind2=" ">
      <subfield code="a">El actual enfoque balcanizado ante la medición de la calidad de las patentes no resulta útil a los usuarios de los sistemas de patentes del mundo, hasta el punto de que obstaculiza la cooperación y la compartición del producto del trabajo entre diferentes oficinas. Esto impide que los innovadores cuenten con un sistema de protección global más eficiente </subfield>
    </datafield>
    <datafield tag="650" ind1=" " ind2="1">
      <subfield code="0">MAPA20080603267</subfield>
      <subfield code="a">Propiedad intelectual</subfield>
    </datafield>
    <datafield tag="650" ind1=" " ind2="1">
      <subfield code="0">MAPA20080543334</subfield>
      <subfield code="a">Calidad</subfield>
    </datafield>
    <datafield tag="650" ind1=" " ind2="1">
      <subfield code="0">MAPA20080548537</subfield>
      <subfield code="a">Patentes</subfield>
    </datafield>
    <datafield tag="650" ind1=" " ind2="1">
      <subfield code="0">MAPA20080607180</subfield>
      <subfield code="a">Medición de la calidad</subfield>
    </datafield>
    <datafield tag="650" ind1=" " ind2="1">
      <subfield code="0">MAPA20080554866</subfield>
      <subfield code="a">Innovación</subfield>
    </datafield>
    <datafield tag="700" ind1="1" ind2=" ">
      <subfield code="0">MAPA20120025998</subfield>
      <subfield code="a">Graham, Stuart</subfield>
    </datafield>
    <datafield tag="773" ind1="0" ind2=" ">
      <subfield code="w">MAP20077100703</subfield>
      <subfield code="t">Harvard Deusto business review</subfield>
      <subfield code="d">Bilbao : Ediciones Deusto, 1990-</subfield>
      <subfield code="x">0210-900X</subfield>
      <subfield code="g">15/10/2012 Número 216  - octubre 2012 , p. 60-65</subfield>
    </datafield>
  </record>
</collection>