Búsqueda

Un Nouvel outil d'aide à l'analyse du comportement des dispositifs électroniques en présence de défauts : Defor

<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xsi:schemaLocation="http://www.loc.gov/MARC21/slim http://www.loc.gov/standards/marcxml/schema/MARC21slim.xsd">
  <record>
    <leader>00000nab a2200000 i 4500</leader>
    <controlfield tag="001">MAP20071016627</controlfield>
    <controlfield tag="003">MAP</controlfield>
    <controlfield tag="005">20080418114707.0</controlfield>
    <controlfield tag="007">hzruuu---uuuu</controlfield>
    <controlfield tag="008">931228e19930101fra||||    | |00010|fre d</controlfield>
    <datafield tag="035" ind1=" " ind2=" ">
      <subfield code="a">6800002619</subfield>
    </datafield>
    <datafield tag="040" ind1=" " ind2=" ">
      <subfield code="a">MAP</subfield>
      <subfield code="b">spa</subfield>
    </datafield>
    <datafield tag="084" ind1=" " ind2=" ">
      <subfield code="a">871</subfield>
    </datafield>
    <datafield tag="100" ind1="1" ind2=" ">
      <subfield code="0">MAPA20080181949</subfield>
      <subfield code="a">Vigneron, Claude</subfield>
    </datafield>
    <datafield tag="245" ind1="1" ind2="3">
      <subfield code="a">Un Nouvel outil d'aide à l'analyse du comportement des dispositifs électroniques en présence de défauts</subfield>
      <subfield code="b">: Defor</subfield>
      <subfield code="c">C. Vigneron</subfield>
    </datafield>
    <datafield tag="520" ind1=" " ind2=" ">
      <subfield code="a">Pour assurer les fonctions de sécurité délivrées par un dispositif électronique, il est nécessaire, tout au long de son "cycle de vie", d'utiliser des méthodes et des moyens pour minimiser les fautes de conception et contrôler les éventuelles anomalies de fonctionnement. La simulation physique de défauts est un concept pratique intéressant pour valider a posteriori l'efficacité des méthodes employées. L'utilisation de ce concept vient renforcer les méthodes théoriques a priori de modélisation. Cet article, après quelques rappels généraux sur les phases de conception d'un système électronique et sur la simulation de défauts, décrit un outil automatique de test développé à l'INRS</subfield>
    </datafield>
    <datafield tag="650" ind1="1" ind2="1">
      <subfield code="0">MAPA20080629724</subfield>
      <subfield code="a">Seguridad e higiene en el trabajo</subfield>
    </datafield>
    <datafield tag="650" ind1="1" ind2="1">
      <subfield code="0">MAPA20080616786</subfield>
      <subfield code="a">Dispositivos de seguridad</subfield>
    </datafield>
    <datafield tag="650" ind1="1" ind2="1">
      <subfield code="0">MAPA20080603700</subfield>
      <subfield code="a">Seguridad de sistemas</subfield>
    </datafield>
    <datafield tag="650" ind1="1" ind2="1">
      <subfield code="0">MAPA20080594626</subfield>
      <subfield code="a">Análisis de sistemas</subfield>
    </datafield>
    <datafield tag="650" ind1="1" ind2="1">
      <subfield code="0">MAPA20080558031</subfield>
      <subfield code="a">Electrónica</subfield>
    </datafield>
    <datafield tag="650" ind1="1" ind2="1">
      <subfield code="0">MAPA20080596354</subfield>
      <subfield code="a">Equipos electrónicos</subfield>
    </datafield>
    <datafield tag="650" ind1="1" ind2="1">
      <subfield code="0">MAPA20080602642</subfield>
      <subfield code="a">Modelos de simulación</subfield>
    </datafield>
    <datafield tag="740" ind1="0" ind2=" ">
      <subfield code="a">Cahiers de notes documentaires</subfield>
    </datafield>
    <datafield tag="773" ind1="0" ind2=" ">
      <subfield code="t">Cahiers de notes documentaires</subfield>
      <subfield code="d">Paris</subfield>
      <subfield code="g">nº 150, 1er. trimestre 1993 ; p. 47-54</subfield>
    </datafield>
  </record>
</collection>