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Immunité de systèmes à microprocesseurs aux perturbations électromagnétiques rayonnées

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<dc:creator>Klein, R.</dc:creator>
<dc:creator>Clauzade, B.</dc:creator>
<dc:date>1994-01-01</dc:date>
<dc:description xml:lang="es">Sumario: La plupart des composants des automatismes utilisés dans les processus industriels sont des systèmes standard à base de microélectronique programmable et leur dysfontionnement peut affecter la sécurité des opérateurs. L'étude présentée dans cet article avait pour but d'analyser le niveau d'immunité aux perturbations rayonnées de quelques-uns de ces composants</dc:description>
<dc:identifier>https://documentacion.fundacionmapfre.org/documentacion/publico/es/bib/48054.do</dc:identifier>
<dc:language>fre</dc:language>
<dc:rights xml:lang="es">InC - http://rightsstatements.org/vocab/InC/1.0/</dc:rights>
<dc:subject xml:lang="es">Higiene industrial</dc:subject>
<dc:subject xml:lang="es">Seguridad de sistemas</dc:subject>
<dc:subject xml:lang="es">Sistemas automatizados</dc:subject>
<dc:subject xml:lang="es">Radiaciones electromagnéticas</dc:subject>
<dc:subject xml:lang="es">Dispositivos de seguridad</dc:subject>
<dc:subject xml:lang="es">Procesos industriales</dc:subject>
<dc:type xml:lang="es">Artículos y capítulos</dc:type>
<dc:title xml:lang="es">Immunité de systèmes à microprocesseurs aux perturbations électromagnétiques rayonnées</dc:title>
<dc:title xml:lang="es">Título: Cahiers de notes documentaires</dc:title>
<dc:relation xml:lang="es">En: Cahiers de notes documentaires. - Paris. - nº 154, 1er. trimestre 1994 ; p. 51-59</dc:relation>
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