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Pesquisa realizada: MAPA20080630607
Clasificación de instrumentos de metrología dimensional
- Madrid : Ministerio de Industria y Energía, Dirección General de Innovación Industrial y Tecnología, D.L. 1984
- Livros
Sistemas aplicables para la toma de muestras de contaminantes químicos
- Guasch Farrás, Juan
- Madrid : INSHT, 1984
- Livros
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Objetos digitales