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Effets des perturbations électromagnétiques sur certains équipements : risques liés aux dysfonctionnements

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<dc:creator>Klein, R.</dc:creator>
<dc:creator>Clauzade, B.</dc:creator>
<dc:date>1991-01-01</dc:date>
<dc:description xml:lang="es">Sumario: Le développement récent des systèmes à microprocesseurs a conduit à s'intéresser à leur niveau d'immunité et leur comportement lorsqu'ils sont soumis à des perturbations électromagnétiques. Ces dernières sont parfois la cause de dysfonctionnements affectant le niveau de sécurité des équipements industriels pilotés par ces systèmes. Des cas concrets de dysfonctionnements sont traités. Les sources sont tout d'abord caractérisées, puis les perturbations sont appliquées par simulation aux systèmes victimes. Leur comportement est analysé. Il importe de bien prendre en compte le problème de la compatibilité électromagnétique (CEM) dès la conception des systèmes et de sensibiliser les préventeurs et les utilisateurs à ce phénomène</dc:description>
<dc:identifier>https://documentacion.fundacionmapfre.org/documentacion/publico/es/bib/44453.do</dc:identifier>
<dc:language>fre</dc:language>
<dc:rights xml:lang="es">InC - http://rightsstatements.org/vocab/InC/1.0/</dc:rights>
<dc:subject xml:lang="es">Seguridad e higiene en el trabajo</dc:subject>
<dc:subject xml:lang="es">Prevención de accidentes</dc:subject>
<dc:subject xml:lang="es">Riesgo laboral</dc:subject>
<dc:subject xml:lang="es">Equipos electrónicos</dc:subject>
<dc:subject xml:lang="es">Electrónica</dc:subject>
<dc:subject xml:lang="es">Campos electromagnéticos</dc:subject>
<dc:subject xml:lang="es">Análisis de Seguridad de Sistemas</dc:subject>
<dc:type xml:lang="es">Artículos y capítulos</dc:type>
<dc:title xml:lang="es">Effets des perturbations électromagnétiques sur certains équipements : risques liés aux dysfonctionnements</dc:title>
<dc:title xml:lang="es">Título: Cahiers de notes documentaires</dc:title>
<dc:relation xml:lang="es">En: Cahiers de notes documentaires. - Paris. - nº 142, 1er. trimestre 1991 ; p. 5-20</dc:relation>
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