Aplicaciones en serie del equipo, integradas en los sistemas de inspección de equipaje de mano

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<dc:creator>Juanes, Carlos de</dc:creator>
<dc:date>1996-12-01</dc:date>
<dc:description xml:lang="es">Sumario: El Z-SCAN es un sistema de inspección por rayos X de alto rendimiento, único con dos vistas y un sistem automático de detección de explosivos. El nuevo Z-SCAN de alta capacidad, fue presentado en Octubre de 1995. Emplea un ordenador de alta capacidad para analizar automáticamente los contenidos de cada bolsa en menos de dos segundos. Los objetos de interés son marcados automáticamente por elipses en un monitor de alta resolución. Debido a que el análisis está basado en una reconstrucción tridimensional, el equipo es mucho más potente a la hora de solucionar problemas. Esto es, el sistema puede facilmente detectar explosivos escondidos dentro de objetos de apariencia normal. En España A.E.N.A. va a realizar diversas pruebas, todo ello dirigido a controlar el 100% del equipo de bodega, en breve espacio de tiempo</dc:description>
<dc:identifier>https://documentacion.fundacionmapfre.org/documentacion/publico/es/bib/50739.do</dc:identifier>
<dc:language>spa</dc:language>
<dc:rights xml:lang="es">InC - http://rightsstatements.org/vocab/InC/1.0/</dc:rights>
<dc:subject xml:lang="es">Aeropuertos</dc:subject>
<dc:subject xml:lang="es">Inspecciones de seguridad</dc:subject>
<dc:subject xml:lang="es">Control de acceso</dc:subject>
<dc:subject xml:lang="es">Sistemas de detección automáticos</dc:subject>
<dc:subject xml:lang="es">Rayos X</dc:subject>
<dc:subject xml:lang="es">Explosivos</dc:subject>
<dc:subject xml:lang="es">Atentados</dc:subject>
<dc:subject xml:lang="es">Prevención de riesgos</dc:subject>
<dc:type xml:lang="es">Artículos y capítulos</dc:type>
<dc:title xml:lang="es">Aplicaciones en serie del equipo, integradas en los sistemas de inspección de equipaje de mano</dc:title>
<dc:title xml:lang="es">Título: Seguritecnia</dc:title>
<dc:relation xml:lang="es">En: Seguritecnia. - Madrid. - nº 206, Diciembre 1996 ; p. 94-97</dc:relation>
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