Centro de Documentacion de Fundación MAPFRE - Proceedings roundtable discussion on analytical techniques for quartz : december 6-7, 1972

Publicação: Ohio : ACGIH, 1972Descrição física: VIII, 152 p. ; 28 cm.Notas: Fondo donado por el Sr. Enrique González Fernández, del INSHTSumario: X-ray diffraction -- Energy dispersive x-ray diffraction technique -- Infrared spectroscopy -- X-ray diffraction -- Infrared spectroscopy -- X-ray diffraction -- Exo-electron emission -- Differential thermal analysis -- X-ray diffraction -- Colorimetric analysis -- The NBS standard reference material program -- The NIOSH proficiency analytical testing program -- A field study of three North Carolina Mineral processing plants, free silica analysisMateria / lugar / evento: Rayos X Cuarzo Métodos de análisis Espectrometría Rayos infrarrojos Outras classificações: 872

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