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Una Apuesta por la calidad de las patentes mediante mediciones estándar

Recurso electrónico / electronic resource
Sección: Artículos
Título: Una Apuesta por la calidad de las patentes mediante mediciones estándar / David J. Kappos, Stuart Graham Autor: Kappos, David J.
Notas: Sumario: El actual enfoque balcanizado ante la medición de la calidad de las patentes no resulta útil a los usuarios de los sistemas de patentes del mundo, hasta el punto de que obstaculiza la cooperación y la compartición del producto del trabajo entre diferentes oficinas. Esto impide que los innovadores cuenten con un sistema de protección global más eficiente Registros relacionados: En: Harvard Deusto business review. - Bilbao : Ediciones Deusto, 1990- = ISSN 0210-900X. - 15/10/2012 Número 216 - octubre 2012 , p. 60-65Materia / lugar / evento: Propiedad intelectual Calidad Patentes Medición de la calidad Innovación Otros autores: Graham, Stuart
Otras clasificaciones: 911.2
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