Búsqueda

Cómo nos afecta el láser : nuevas tendencias para evaluar la exposición laboral a la radiación

<?xml version="1.0" encoding="UTF-8" standalone="no"?>
<rdf:RDF xmlns:rdf="http://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance">
<rdf:Description>
<dc:creator>García Lloret, José Ignacio</dc:creator>
<dc:creator>Editorial MAPFRE</dc:creator>
<dc:creator>Fundación MAPFRE</dc:creator>
<dc:date>2006-10-01</dc:date>
<dc:description xml:lang="es">"Nuevas tendencias en metodologías de evaluación de la exposición laboral a radiaciones láser" es el nuevo título de un proyecto de investigación realizado entre 2004 y 2005 mediante una beca para la FUNDACIÓN MAPFRE. Como resultado de este trabajo se elaboró un manual para la evaluación a la exposición Láser, que recoge importantes aspectos considerados tanto por la LEY 31-1995 como por la legislación europea sobre riesgos laborales y por normas UNE</dc:description>
<dc:format xml:lang="en">application/pdf</dc:format>
<dc:identifier>https://documentacion.fundacionmapfre.org/documentacion/publico/es/bib/60482.do</dc:identifier>
<dc:language>spa</dc:language>
<dc:rights xml:lang="es">InC - http://rightsstatements.org/vocab/InC/1.0/</dc:rights>
<dc:subject xml:lang="es">Higiene industrial</dc:subject>
<dc:subject xml:lang="es">Exposiciones</dc:subject>
<dc:subject xml:lang="es">Láser</dc:subject>
<dc:subject xml:lang="es">Radiación</dc:subject>
<dc:subject xml:lang="es">Nuevas tecnologías</dc:subject>
<dc:subject xml:lang="es">Contaminantes físicos</dc:subject>
<dc:type xml:lang="es">Artículos y capítulos</dc:type>
<dc:title xml:lang="es">Cómo nos afecta el láser : nuevas tendencias para evaluar la exposición laboral a la radiación</dc:title>
<dc:title xml:lang="es">Título: Mapfre seguridad</dc:title>
<dc:relation xml:lang="es">En: Mapfre seguridad : Revista de la Fundación MAPFRE. - Madrid : Editorial MAPFRE. - nº 104, 4º trimestre 2006 ; p. 34-46</dc:relation>
</rdf:Description>
</rdf:RDF>