Immunité de systèmes à microprocesseurs aux perturbations électromagnétiques rayonnées

<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xsi:schemaLocation="http://www.loc.gov/MARC21/slim http://www.loc.gov/standards/marcxml/schema/MARC21slim.xsd">
  <record>
    <leader>00000nab a2200000 i 4500</leader>
    <controlfield tag="001">MAP20071020299</controlfield>
    <controlfield tag="003">MAP</controlfield>
    <controlfield tag="005">20080418120149.0</controlfield>
    <controlfield tag="007">hzruuu---uuuu</controlfield>
    <controlfield tag="008">940708e19940101fra||||    | |00010|fre d</controlfield>
    <datafield tag="035" ind1=" " ind2=" ">
      <subfield code="a">6800002630</subfield>
    </datafield>
    <datafield tag="040" ind1=" " ind2=" ">
      <subfield code="a">MAP</subfield>
      <subfield code="b">spa</subfield>
    </datafield>
    <datafield tag="084" ind1=" " ind2=" ">
      <subfield code="a">872</subfield>
    </datafield>
    <datafield tag="100" ind1="1" ind2=" ">
      <subfield code="0">MAPA20080005368</subfield>
      <subfield code="a">Klein, R.</subfield>
    </datafield>
    <datafield tag="245" ind1="1" ind2="0">
      <subfield code="a">Immunité de systèmes à microprocesseurs aux perturbations électromagnétiques rayonnées</subfield>
      <subfield code="c">R. Klein et B. Clauzade</subfield>
    </datafield>
    <datafield tag="520" ind1=" " ind2=" ">
      <subfield code="a">La plupart des composants des automatismes utilisés dans les processus industriels sont des systèmes standard à base de microélectronique programmable et leur dysfontionnement peut affecter la sécurité des opérateurs. L'étude présentée dans cet article avait pour but d'analyser le niveau d'immunité aux perturbations rayonnées de quelques-uns de ces composants</subfield>
    </datafield>
    <datafield tag="650" ind1="1" ind2="1">
      <subfield code="0">MAPA20080585679</subfield>
      <subfield code="a">Higiene industrial</subfield>
    </datafield>
    <datafield tag="650" ind1="1" ind2="1">
      <subfield code="0">MAPA20080603700</subfield>
      <subfield code="a">Seguridad de sistemas</subfield>
    </datafield>
    <datafield tag="650" ind1="1" ind2="1">
      <subfield code="0">MAPA20080608651</subfield>
      <subfield code="a">Sistemas automatizados</subfield>
    </datafield>
    <datafield tag="650" ind1="1" ind2="1">
      <subfield code="0">MAPA20080624828</subfield>
      <subfield code="a">Radiaciones electromagnéticas</subfield>
    </datafield>
    <datafield tag="650" ind1="1" ind2="1">
      <subfield code="0">MAPA20080616786</subfield>
      <subfield code="a">Dispositivos de seguridad</subfield>
    </datafield>
    <datafield tag="650" ind1="1" ind2="1">
      <subfield code="0">MAPA20080603137</subfield>
      <subfield code="a">Procesos industriales</subfield>
    </datafield>
    <datafield tag="700" ind1="1" ind2=" ">
      <subfield code="0">MAPA20080040307</subfield>
      <subfield code="a">Clauzade, B.</subfield>
    </datafield>
    <datafield tag="740" ind1="0" ind2=" ">
      <subfield code="a">Cahiers de notes documentaires</subfield>
    </datafield>
    <datafield tag="773" ind1="0" ind2=" ">
      <subfield code="t">Cahiers de notes documentaires</subfield>
      <subfield code="d">Paris</subfield>
      <subfield code="g">nº 154, 1er. trimestre 1994 ; p. 51-59</subfield>
    </datafield>
  </record>
</collection>