Centro de Documentación de Fundación MAPFRE - Una Apuesta por la calidad de las patentes mediante mediciones estándar

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Una Apuesta por la calidad de las patentes mediante mediciones estándar / David J. Kappos, Stuart Graham

Sumario: El actual enfoque balcanizado ante la medición de la calidad de las patentes no resulta útil a los usuarios de los sistemas de patentes del mundo, hasta el punto de que obstaculiza la cooperación y la compartición del producto del trabajo entre diferentes oficinas. Esto impide que los innovadores cuenten con un sistema de protección global más eficiente

En: Harvard deusto business review. - Bilbao : Ediciones Deusto, 1990- = ISSN 0210-900X. - 15/10/2012 Número 216 - octubre 2012 , p. 60-65

1. Propiedad intelectual . 2. Calidad . 3. Patentes . 4. Medición de la calidad . 5. Innovación . I. Graham, Stuart . II. Title.