Una Apuesta por la calidad de las patentes mediante mediciones estándar

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<dc:creator>Kappos, David J.</dc:creator>
<dc:creator>Graham, Stuart</dc:creator>
<dc:date>2012-10-15</dc:date>
<dc:description xml:lang="es">Sumario: El actual enfoque balcanizado ante la medición de la calidad de las patentes no resulta útil a los usuarios de los sistemas de patentes del mundo, hasta el punto de que obstaculiza la cooperación y la compartición del producto del trabajo entre diferentes oficinas. Esto impide que los innovadores cuenten con un sistema de protección global más eficiente </dc:description>
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<dc:language>spa</dc:language>
<dc:rights xml:lang="es">InC - http://rightsstatements.org/vocab/InC/1.0/</dc:rights>
<dc:subject xml:lang="es">Propiedad intelectual</dc:subject>
<dc:subject xml:lang="es">Calidad</dc:subject>
<dc:subject xml:lang="es">Patentes</dc:subject>
<dc:subject xml:lang="es">Medición de la calidad</dc:subject>
<dc:subject xml:lang="es">Innovación</dc:subject>
<dc:type xml:lang="es">Artículos y capítulos</dc:type>
<dc:title xml:lang="es">Una Apuesta por la calidad de las patentes mediante mediciones estándar </dc:title>
<dc:relation xml:lang="es">En: Harvard deusto business review. - Bilbao : Ediciones Deusto, 1990- = ISSN 0210-900X. - 15/10/2012 Número 216  - octubre 2012 , p. 60-65</dc:relation>
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