Una Apuesta por la calidad de las patentes mediante mediciones estándar

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      <subfield code="a">Una Apuesta por la calidad de las patentes mediante mediciones estándar </subfield>
      <subfield code="c">David J. Kappos, Stuart Graham </subfield>
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      <subfield code="a">El actual enfoque balcanizado ante la medición de la calidad de las patentes no resulta útil a los usuarios de los sistemas de patentes del mundo, hasta el punto de que obstaculiza la cooperación y la compartición del producto del trabajo entre diferentes oficinas. Esto impide que los innovadores cuenten con un sistema de protección global más eficiente </subfield>
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      <subfield code="d">Bilbao : Ediciones Deusto, 1990-</subfield>
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      <subfield code="g">15/10/2012 Número 216  - octubre 2012 , p. 60-65</subfield>
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